浏览次数:1717 日期:2017年08月10日
沃特兰德受邀参加8月3-5日在沈阳举办的“土壤物理学与水土资源可持续利用科学研讨会”,展会现场盛况空前,几百位全国土壤物理研究者济济一堂,展示最新研究成果和研讨土壤物理性状与农田管理地力提升之间的密切关联及调控方法,土壤水分与节水灌溉,土壤污染与生态保护相关的热点问题,会议间歇,大家纷纷来到展位参观咨询公司产品,Eijkelkamp 土壤采样器、HP土壤三参数、蒸渗仪及土壤水分监测仪器颇受来宾青睐,我司同事就产品使用,性能,应用做详细介绍和讲解,使沃特兰德产品和企业更加深入客户。
现场照片:
(一)、提前到展,布置展台,做好十足准备
(二)、现场火爆,展位被咨询的参会者围的水泄不通,土壤三参数备受追捧
(三)、报告厅里严谨的学术报告与场外的学习讲解交流相得益彰
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